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- X-RAY 检测仪S-X3900
S-X3900是一款高性价比的通用型离线式精密微焦斑X 射线检测设备，适用于各类工厂离线产品的检测，其具备高放大倍率、多角度检测、大面积检测平台等特点
设备性能参数
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载物台尺寸 |
540mm x 440mm |
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有效检测区域 |
490mm x 430mm |
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载物台容许高度 |
T 轴未倾斜状态≤210mm； |
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T 轴倾斜 60°状态≤50mm； |
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载物台承重 |
≤5Kg |
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检测效率 |
CNC 模式下单次成像 3s/点； |
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放大倍率 |
几何放大倍率：72X |
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工业控制计算机 |
23.6 英寸显示器\i7-7700K处理器\16G 内存\256GB固态硬盘 \1*2TB SATA 3.5" HDD |
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操作系统 |
WIN10 64bit |
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操作软件 |
Seamark |
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开门方式 |
手动 |
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检测方式 |
CNC 离线检测方式 |
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操作方式 |
键盘、鼠标、按钮、摇杆 |
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语言 |
支持中文、英文两种语言 |
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光管、平板最大倾斜角度 |
60° |
设备结构介绍
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手动开关门机构 |
产品投料区域：480×510mm |
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载物台移动机构 |
X 轴运动行程：0-490mm |
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Y 轴运动行程：0-430mm |
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平板移动机构 |
平板Z 轴运动行程：255mm |
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光管移动机构 |
光管Z 轴运动行程：215mm |
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X-RAY 主机防护壳
体 |
安全标准:X 光泄漏＜1µSV/h |
X 射线管参数
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射线管类型 |
反射密封型微焦点射线源 |
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管电压范围 |
0 - 90KV |
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管电流范围 |
0 - 200uA |
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最大输出功率 |
＜96W |
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微焦点尺寸 |
10μm（90kV/89μA） |
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辐射角度 |
80° |
5、平板探测器参数
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非晶硅平板探测器 |
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视场范围 |
130mm x 130mm |
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像素矩阵 |
1536 x 1536 |
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空间分辨率 |
5.5Lp/mm |
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图像帧率（1×1) |
20fps |
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AD 转换位数 |
16bits |
6、导航相机参数
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动态分辨率 |
1080p（1920×1080） |
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最大帧频 |
30fps |
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视野角度 |
90° |
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对焦方式 |
自动对焦 |
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数码变焦倍数 |
4 倍数码变焦 |
7、设备规格参数
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电源电压 |
220V±10% 50-60HZ |
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额定功率 |
1.5KW |
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接口 |
电源接口：单相两极带接地插头 250V/10A（GB1002 标准） |
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USB 接口：USB3.0 |
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网络接口：RJ45 Gigabit Ethernet (IEEE802.3 标准) |
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接地接口：接地螺柱M6 |
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设备重量 |
约 1170KG |
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